Live-Webinar am 21. März 2023 um 14:00 Uhr
Innovative DSOI-Plasmabetrachtung zur Analyse von Spurenelementen in Edelmetalllegierungen
Für die Analyse von Spurenelementen in Edelmetallen zur Bestimmung ihrer Reinheit ist die ICP-OES seit Jahren die Technik der Wahl. Aufgrund der Anforderungen an die Nachweisempfindlichkeit kommen hierfür meist Geräte mit axialer Plasmabetrachtung zum Einsatz. Die Anwendung ist jedoch aufgrund des hohen Matrixanteils der Proben nicht einfach, erfordert Erfahrung und ist mit einem höheren Wartungsaufwand verbunden. Die vor einigen Jahren entwickelten Systeme mit axialer Plasmabetrachtung und vertikaler Fackelausrichtung beseitigen diese Nachteile nur teilweise.
Als Lösung ohne die genannten Nachteile erweist sich die innovative doppelte radiale Plasmabetrachtung (DSOI). Das Webinar beschreibt diese neuartige Technologie und zeigt ihre Leistungsfähigkeit bei der Bestimmung von Spurenelementgehalten in verschiedenen Edelmetallen.
Das Webinar beginnt am 21. März um 14.00 Uhr und wird etwa 30 Minuten dauern, gefolgt von einer Q&A-Session, in der Sie Ihre Fragen stellen können.
Der Referent
Dr. Marcus Gantenberg promovierte in physikalisch-organischer Chemie an der Ruhr-Universität Bochum. Im Jahr 2007 wechselte Marcus Gantenberg zu SPECTRO und sammelte umfangreiche Erfahrungen in verschiedenen Bereichen der Spektroskopie. Als Applikationswissenschaftler für ICP-OES hat Marcus Gantenberg in vielen technologischen Projekten mitgewirkt und eine Vielzahl von Kunden betreut.
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